產品目錄 Product catalog
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北京恒奧德儀器儀表有限公司
聯(lián)系人：王蕊
公司郵箱：2272048995@qq.com
辦公地址：北京市海淀區(qū)富海中心
恒奧德儀器薄層成像掃描儀操作流程原理 |
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| 詳細介紹 | ||||||||||||||||
恒奧德儀器薄層成像掃描儀操作流程原理 主要基于薄層色譜技術，通過分離和檢測樣品中的不同成分實現(xiàn)成像分析。以下是其核心操作原理及流程： 分離原理 將樣品點在玻璃板或塑料片材的薄層上，利用流動相在特定展開室中推動樣品組分移動。不同組分因與固定相（多孔吸附劑）的相互作用差異，在薄層上形成分離斑紋。 ?
檢測原理 ?紫外/可見光檢測?：通過長波長光束（如254nm或365nm）照射薄層斑點，測量光強變化實現(xiàn)定量分析。 ?
?熒光檢測?：特定化合物（如含共軛雙鍵結構）在紫外光激發(fā)下產生熒光，形成可見斑點。 ?
操作流程 ?樣品制備?：將樣品溶解后點在薄層板上，干燥后放入掃描儀。 ? ?參數(shù)設置?：選擇檢測波長、調整掃描區(qū)域、分辨率（如20~200μm/像素）及曝光時間。 ?
?掃描成像?：啟動掃描后，儀器通過光學傳感器（如CCD）采集反射或發(fā)射光信號，轉化為數(shù)字圖像。 ?
?數(shù)據(jù)分析?：通過峰位、半高寬等參數(shù)計算Rf值，結合標準曲線進行定量分析 |
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